Beim Rasterelektronenmikroskop (REM) wird ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Muster über die zu untersuchende Probe geführt (gerastert). Wechselwirkungen der Elektronen mit der Probe ermöglichen hochauflösende Abbildungen des Materials sowie dessen chemische Analyse.

Technische Spezifikationen:

Anwendung:

• Hochauflösende Gefügeanalyse von Werkstoffen

• qualitative und (semi-)quantitative chemische Analyse mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX)

• Charakterisierung von Bruchflächen